拉曼電鏡聯(lián)用系統(tǒng)可以結(jié)合樣品的微觀形態(tài)、元素分析、分子結(jié)構(gòu)、理化性質(zhì)、結(jié)晶度、晶體缺陷等信息，為科研人員提供了一個(gè)全新的多維分析平臺(tái)。該平臺(tái)可配置多種的拉曼光譜儀，為您提供個(gè)性化的應(yīng)用選擇。

　　拉曼電鏡是一種用細(xì)焦電子束轟擊樣品表面，通過電子與樣品的相互作用，產(chǎn)生二次電子、背散射電子、X射線等，觀察分析樣品表面或斷裂形態(tài)的一種檢測(cè)方法。借助于EDS或WDS，可以獲得分析區(qū)域內(nèi)元素種類和含量的定性信息。還可以通過添加EBSD附件獲得晶體取向信息。但用SEM來表征物質(zhì)的化學(xué)結(jié)構(gòu)是比較困難的。
 

　　拉曼光譜是散射光譜的一種。通過測(cè)量物質(zhì)分子鍵的振動(dòng)頻率，可以獲得物質(zhì)的化學(xué)結(jié)構(gòu)特征，如官能團(tuán)、對(duì)稱基團(tuán)、晶格缺陷等物質(zhì)的化學(xué)結(jié)構(gòu)特征的詳細(xì)信息，以及物質(zhì)的結(jié)晶度等。但是，拉曼電鏡聯(lián)用系統(tǒng)的組合系統(tǒng)的拉曼光譜往往是借助光學(xué)顯微鏡對(duì)樣品進(jìn)行觀察和激光聚焦，受所使用的激光源波長(zhǎng)（一般為紫外、可見光、近紅外波段）的限制，空間分辨率相對(duì)較低，因此在一些結(jié)構(gòu)復(fù)雜的樣品中，很難分辨出不同的相和顆粒，因此，拉曼電子顯微鏡的組合系統(tǒng)的拉曼光譜是一種比較好的方法。

　　可采用拉曼電鏡聯(lián)用系統(tǒng)對(duì)樣品進(jìn)行原位分析。由于SEM數(shù)據(jù)和拉曼數(shù)據(jù)可以從同一點(diǎn)采集，因此可以快速直觀地表征樣品的表面形態(tài)與分子結(jié)構(gòu)的關(guān)系。在SEM圖像的基礎(chǔ)上，可以更準(zhǔn)確地選擇樣品的測(cè)試區(qū)域進(jìn)行快速、無損分析材料成分，得到準(zhǔn)確的樣品成分?jǐn)?shù)據(jù)。